›› 2011, Vol. 23 ›› Issue (5): 325-329.doi: 10.3969/j.issn.1004-616x.2011.05.001
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刘凤英,靳 溪,汤树生,陈 倩,张 婷,赵文霞,张朝明,张 燊,肖希龙*
LIU Feng-ying,JIN Xi,TANG Shu-sheng,CHEN Qian,ZHANG Ting,ZHAO Wen-xia,ZHANG Chao-ming,ZHANG Shen,XIAO Xi-long*
摘要: 目的: 喹烯酮能诱导HepG2细胞S期阻滞,引起DNA和染色体损伤。本研究旨在对喹烯酮致HepG2细胞S期阻滞机制进行筛选和分析。方法:本研究对喹烯酮染毒后HepG2细胞和未染毒HepG2细胞进行了Agilent全基因组的表达谱芯片检测,应用Genespring软件对差异表达的基因进行相关通路分析,并使用荧光定量PCR技术对部分DNA复制相关表达差异基因进行验证。结果:在芯片点样的41 000个寡聚核苷酸片段中,喹烯酮染毒HepG2后,差异表达基因共1 750个,其中表达上调的基因共446个,表达下调的基因共1 304个。差异表达基因通路分析结果表明,与细胞周期、MAPK通路、DNA复制及DNA修复等通路相关的基因表达差异显著。经荧光定量PCR验证,DNA复制相关基因表达变化趋势与芯片检测结果相一致。结论:DNA复制相关基因的下降导致S期DNA复制的不完全性以及DNA损伤后引起的DNA修复,使得HepG2细胞在喹烯酮染毒后引起S期阻滞。基因表达谱芯片检测分析的结果为喹烯酮致HepG2细胞S期阻滞机制的深入研究奠定了基础。